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全球首张致
聋
基因
检测
芯片
投入临床使用
在近日举行的2010全国妇幼保健热点论坛上,中国工程院院士程京透露,我国已研制出国际上首张用于临床诊断的致
聋
基因
检测
芯片
。
http://news.hc3i.cn/art/201009/7118.htm
时间:
2010/09/15
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